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是
對(duì)
待
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作
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態(tài)
度
，
個(gè)產(chǎn)品，
對(duì)待每一
做到極致認(rèn)真
每一個(gè)零件
細(xì)
致
致
每一組數(shù)據(jù)
-
智能型HMDS真空系統(tǒng)（JS-HMDS90-AI）
-
潔凈烘箱，百級(jí)無塵烘箱
-
氮?dú)夂嫦?，精密充氮烘?/div>LCP熱處理烘箱，LCP纖維氮?dú)夂嫦?/div>熱風(fēng)循環(huán)真空烘箱，高溫?zé)犸L(fēng)真空烤箱HMDS預(yù)處理系統(tǒng)(JS-HMDS90 )智能型無塵無氧烘箱（PI烤箱）真空無氧固化爐，高溫?zé)o氧烘箱精密烤膠臺(tái)，高精度烘膠機(jī)超低溫試驗(yàn)箱，零下-120度高低溫箱
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絕緣熱沖擊試驗(yàn)裝置，絕緣護(hù)套抗開裂試驗(yàn)裝置
發(fā)布時(shí)間: 2021-09-26 13:42
護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)，護(hù)套抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置適用范圍
本裝置符合GB/T2951.6、VDE0472Part608、IEC60811-3-1試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。本試驗(yàn)適用于通用電纜、電線和軟線的最常用類型的絕緣和護(hù)套材料。
護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)，護(hù)套抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)設(shè)備
2.1 熱老化箱
2.2 熱沖擊試驗(yàn)裝置
護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)，護(hù)套抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置熱沖擊試驗(yàn)
3.1 取樣
每個(gè)被試絕緣線芯應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。
若有外護(hù)層的話，應(yīng)從絕緣上除去。
3.2 試樣制備
試樣應(yīng)按下列3種方法中的一種進(jìn)行制備：
- 對(duì)于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯，每一試樣是一段絕緣線芯。
- 對(duì)于外徑超過12.5mm，絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有扇形絕緣線芯，每個(gè)試樣應(yīng)取成絕緣窄條，其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍，但不小于4mm。
窄條應(yīng)沿絕緣線芯的軸線方向切取，如果是扇形絕緣線芯，應(yīng)在絕緣線芯的“背部”切取。
- 對(duì)于外徑超過12.5mm，絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯，每個(gè)試樣應(yīng)按b）項(xiàng)規(guī)定切取窄條，然后窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0至5.0mm厚。該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)的。窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
3.3 試樣卷繞
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。
試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下：
- 表1適用于按3.2條a項(xiàng)制備的試樣；對(duì)于扁平電纜和軟線，試棒直徑應(yīng)按其短軸尺寸選取，卷繞時(shí)使其短軸垂直于試棒。
- 表2適用于按3.2條b項(xiàng)和c項(xiàng)制備的試樣。在這種情況下，試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。
表1
|
試樣外徑D （mm） |
試棒直徑 （mm） |
卷繞圈數(shù) |
|
D≤2.5 |
5 |
6 |
|
2.5＜D≤4.5 |
9 |
6 |
|
4.5＜D≤6.5 |
13 |
6 |
|
6.5＜D≤9.5 |
19 |
4 |
|
9.5＜D≤12.5 |
40 |
2 |
表2
|
試樣厚度δ （mm） |
試棒直徑 （mm） |
卷繞圈數(shù) |
|
δ≤1 |
2 |
6 |
|
1＜δ≤2 |
4 |
6 |
|
2＜δ≤3 |
6 |
6 |
|
3＜δ≤4 |
8 |
4 |
|
4＜δ≤5 |
10 |
2 |
上表格中，試樣或厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其它合適的測(cè)量工具進(jìn)行測(cè)定。
3.4 加熱和檢查
繞在試棒上的試樣應(yīng)放入預(yù)熱到有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試驗(yàn)溫度的空氣烘箱中。如果電纜標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定，則預(yù)熱到（150±3）℃。試樣在規(guī)定溫度下保持1h。
當(dāng)試樣達(dá)到近似環(huán)境溫度后，檢查仍在試棒上的試樣。
3.5 試樣結(jié)果的評(píng)定
當(dāng)用正常視力或校正后的視力而不用放大鏡進(jìn)行檢查時(shí)，試樣應(yīng)無裂紋，
護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)，護(hù)套熱沖擊試驗(yàn)
4.1 取樣
每個(gè)被試護(hù)套應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的電纜試樣，試樣取自兩處，間隔至少1m。
所有的外護(hù)層應(yīng)除去。
4.2 試樣制備
a）對(duì)于外徑不超過12.5mm的護(hù)套，每一試樣是一段電纜，但聚乙烯絕緣聚氯乙烯護(hù)套電纜除外。
b）對(duì)于外徑超過12.5mm，厚度不超過5.0mm的護(hù)套的聚乙烯絕緣電纜的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是取自護(hù)套上的窄條，其寬度至少是護(hù)套厚度的1.5倍，但不小于4mm。窄條應(yīng)沿電纜的軸線方向切取。
c）對(duì)于外徑超過12.5mm，厚度超過5.0mm的護(hù)套，每個(gè)試樣應(yīng)是按b）項(xiàng)規(guī)定切取窄條，然后在窄條的外表面磨或削（避免過熱）到4.0至5.0mm厚。該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)的。窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
d）對(duì)于扁電纜，如果電纜的寬度不超過12.5mm，每個(gè)試樣應(yīng)是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm，則每個(gè)試樣應(yīng)是按b項(xiàng)規(guī)定從護(hù)套上切取的窄條。
4.3 試樣卷繞
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形，將兩端固定。試棒直徑和卷繞圈數(shù)為：按第4.2條a）項(xiàng)制備的試樣見3.3條a）項(xiàng)的規(guī)定；按4.2條b）項(xiàng)和c）項(xiàng)制備的試樣見3.3條b）項(xiàng)規(guī)定。試樣的直徑或厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其它合適的測(cè)量工具進(jìn)行測(cè)定。
4.4 加熱和檢查
按3.4條的規(guī)定。
4.5 試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定
按3.5條的規(guī)定。
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